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产品详情

薄膜膜厚计

薄膜膜厚计

薄膜膜厚计

薄膜膜厚计

特点:

氧化铝膜、各种高分子材料、涂料膜和金属材料上的绝缘层等一般的膜厚计不能册的，适用于厚度为0.1 mm以上基体的镀膜。

说明:
特别用于氧化铝工厂和易拉罐工厂等的使用。

测定范围:

测定方法
导电率式

测定对象
金属上的绝缘层

测定范围
0.-40μm （比重为1时）

探头
曲面测定用

表示方法
指针式

电源　　
AV100V（50/60HZ）

体积　　
190（W）×210（D）×100（H）

重量　　
1.7Kg

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