压力容器厚度的超声测定
发表于：
2011-11-30 0:39:00
阅读次数：
次 【字体：
大 中 小】
压力容器厚度的超声测定
1.1 测定范围
表9-10 缺陷按指示长度分级表 mm
|
级别
|
板厚T
|
|
15-40
|
>40~80
|
|
Ⅰ
|
≤10
|
≤1/4T
|
|
Ⅱ
|
≤15
|
≤1/3T
|
|
Ⅲ
|
|
注：当对接焊缝两侧板厚不同时．以较薄者为准。
本章适用于采用数字直读式超声波测厚仪或A型脉冲反射式超声波探伤仪对压力容器板材、封头、筒体和接管厚度进行的超声测定。1.2 几种主要材料的声速范阁
几种主要材料的声速范围，见表10-1。使用时，如有必要，应对材科进行实际声速测定。
表10 -1 几种主要材料的声速 m／s 在用双晶直探头测定时，将分割面的方向转动90°，在同一测定点测两次的测定方法。测定值以小的数值为准。
1.8.3 ф30mm多点测定法
当测定值不稳定时，以一个测定点为中,心在30mm的范围内进行多点测定。测定值以最小值为HE。
1.8.4 管子壁厚的测定方法
单直探头测定时，应使探头中心线与管轴中心线相垂直，并通过管铀中心，使用双晶直探头测定时，探头分割线必须与管轴中心线垂直。
材料名称 纵波声速
铝 6300
钢 5900
不锈钢 5800
铜 4700
锆 4310
钛 6240
锌 4170
铅 2170
铸铁 3500~5600
1.3 仪器及探头
1.3.1 超声波测厚仪的精度应达到±(T％十0．1)mm，T为壁厚。
1.3.2 超声测厚通常采用直接接触式单晶直探头，也可采用带延迟块的单晶直探头和双晶直探头。
1.3.3 高温试件的壁厚测定需用特殊高温探头。
1.4 校正试块
1.4.1 试块的基本要求和尺寸见图10—1。
1.4.2 测定曲面工件厚度时，应使用同一曲率的试块，或者对平面试块加以修正。
1.5 耦合剂
应根据被测件的表面状况及声阻抗，选用无气泡、粘度适宜的耦台剂，如甘油、机油、硅胶、水玻璃和浆糊等。若工件表面粗糙，则应选择比较稠的耦台剂。
1.6 仪器校正
1.6.1 超声波测厚仪的校正
a. 采用台阶试块，分别在厚度接近待测厚度的最大值和待测厚度的最小值(或待测厚度最大值的1／2)进行校正。
b.将探头置于较厚试块上，调整“声速校正”旋钮，使测厚仪显示读数接近已知值。
c.将探头置于较薄的试块上，调整“零位校正”旋纽，使测厚仪显示读数接近已知值。
d.反复调整，使量程的高低两端都得到正确读数，仪器即告调试完毕。
e.若已知材料声速，则可预先调好声速值，然后在仪器附带的试块上，调节“零位校正”旋钮，使仪器显示水为试块的厚度，仪器即调试完毕。
1.6.2 超声波探伤仪的校正
a.同1.6.1 a。
b.探头置于较厚试块上，调节仪器“扫描范围”旋钮．直到底面回波出现在相应刻度位置上。
c.探头置于较薄试块上，调节仪器“延迟扫描”旋钮，直到底面回波出现在相应刻度位置上。
d.反复调整，直到在厚，薄试块上的底面回波均出现在正确的刻度位置，仪器即告调整完毕。
1.7 测定准备
测定面上存在的浮锈、鳞皮或部分脱离的涂膜应进行清洗，必要时可用砂轮进行适当的修磨。
1.8 测定方法
在测定点只进行一次测定的方法，一般适用于单晶直探头的场合。
1.8.2 二次测定法
1.9 测定值异常时的处理
在采用超声调厚仪测定时．有时会出现异常值，必须进行适当的处理。
1.9.1 没有显示值
若工件曲率半径太小或背面有大量点腐蚀时，测厚仪会没有显示值，这时应采用超声波探伤仪进行辅助测定。
1.9.2 显示值为实际厚度的两倍左右
工件壁厚小于3mm，且背面比较光滑．为避免测厚仪的显示值有时为实际厚度的两倍，这时应采用小测距探头或专用探头。
1.9.3 显示值比实际厚度小
当存在夹杂、夹层等内部缺陷时，测厚仪显示值常小于公称厚度的70％，这时应采用超声探伤仪对测定点周围进行检测，确认是否是受缺陷的影响，探头可采用直探头或斜探头。
1.10 报告
报告至少应包括以下内容：
a.工件名称、材质、编号、委托单位；
b.仪器型号、探头、试块、耦合剂、测定方法；
G.测量部位和数据、测量部位草图、测量数据的最大值和最小值，
d.操作人员、校核人员；
e.测定日期。
Beijing Times Bred Treasure Technology Co., Ltd.
总部地址：北京市海淀区小营西路27号金领时代大厦10楼
邮编：100193
电话：86-10-82728235/57164075/57164076/57164078/57164079
手机：13311188873/13371602179
传真：86-10—62894746
