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Surfix N外置探头非铁基统计型测厚仪
Surfix N外置探头非铁基统计型测厚仪

 

特点: 德国PHYNIX公司Surfix N外置探头非铁基统计型测厚仪碳化钨超耐磨测头,反应速度,同屏显示统计数据,Surfix N膜厚计可存储前200测值,可测有色金属涂镀层,基体上涂层,量程1500μm,精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光,膜厚计有红外可接PC及打印机。

  技术参数:

    测量范围

 0-1500µm,0 - 60mils

     误差

 ±(1µm+1%读数)

     分辨率

 0.1µm小于读数2%

     显示

 背光,字母加数字,10mm高,4位数字显示

     基体*小面积

 5mmX5mm

     基体*小曲率

 凸面:1.5mm凹面:5mm

     基体*小厚度

 F型:0.2mm ,N型: 50µm

     校准

 厂家校准,零校准,校准箔校准

  数据统计(仅限统计型)

 读数个数(*9999),平均值,标准偏差,大值和*小值

  数据存储(仅限统计型)

 *200个测量数值,可单独调出

    数据值(仅限统计型)

 上下限可调,声音报警

     数据接口

 红外通讯,IrDA标准

     环境温度/表面温度

 0-50℃/60℃(可选配150

     电源

 两节1.5伏五号碱性电池

     仪器尺寸

 137x66x23mm

     符合标准

 DINISOASTMBS

 

 

 

关键字: Surfix,N,测厚仪,Surfix,N测厚仪,膜厚计 打印 推荐 返回上一级
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