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产品详情

Surfix F外置探头铁基统计型测厚仪

特点:
       Surfix F铁基膜厚仪碳化钨超耐磨测头,特快反应速度
        同屏显示统计数据
        可存储前200测值
       Surfix F外置探头铁基统计型膜厚仪可测铁基体上涂镀层
       基体上涂层,量程1500μm
       精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
       有红外可接PC及打印机

膜厚仪技术参数：
测量范围	0-1500µm,0 - 60mils
误差	±(1µm+1%读数）
分辨率	0.1µm或小于读数的2%
显示	背光，字母加数字，10mm高，4位数字显示
*基体小面积**	5mmX5mm
*基体小曲率**	凸面：1.5mm凹面：5mm
*基体小厚度**	F型：0.2mm ,N型： 50µm
校准	厂家校准，零校准，校准箔校
数据统计(仅限统计型)	读数个数(多9999个)，平均值，标准偏差，大值和小值*
数据存储(仅限统计型)	多200个测量数值,可单独调出*
数据值(仅限统计型)	上下限可调,声音报警
数据接口	红外通讯,IrDA标准
环境温度/表面温度	0-50℃/60℃（可选配150℃）
电源	两节1.5伏五号碱性电池
仪器尺寸	137x66x23mm
符合标准	DIN，ISO，ASTM，BS

关键字： Surfix,F,外置探头铁基统计型测厚仪,膜厚计

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